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Hunan graeber Electronic Technology Co., Ltd
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Hunan graeber Electronic Technology Co., Ltd

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Vue d'ensemble

Le système de test de décharge électrostatique et de verrouillage es660 est un appareil de test automatique multibroches conçu pour répondre aux exigences strictes des tests de semi - conducteurs modernes. Conçu pour prendre en charge de manière transparente les tests de mannequins (hbM), de modèles de machines (mm) et de verrous, cet appareil polyvalent offre une solution complète pour évaluer la fiabilité et la robustesse des circuits intégrés (ci) et des composants électroniques. La configuration es660 - P1 prend en charge jusqu'à 1280 broches et est idéale pour tester des composants électroniques et des circuits intégrés complexes avec un grand nombre de connexions. Réduisant ainsi le temps de test et augmentant la productivité.

Détails du produit

Es660 Décharge électrostatique et système de test de verrouillage

1. Description

Le système de test de décharge électrostatique et de verrouillage (lu) de la série es660 est un appareil de test automatique multibroches conçu pour répondre aux exigences strictes des tests de semi - conducteurs modernes. Conçu pour prendre en charge de manière transparente les tests de mannequins (hbM), de modèles de machines (mm) et de verrous, cet appareil polyvalent offre une solution complète pour évaluer la fiabilité et la robustesse des circuits intégrés (ci) et des composants électroniques. L'es660 est une version améliorée de la série es612a avec des options de configuration plus élevées.

La configuration es660 - P1 prend en charge jusqu'à 1280 broches et est idéale pour tester des composants électroniques et des circuits intégrés complexes avec un grand nombre de connexions. Sa capacité élevée en nombre de broches garantit une évaluation précise et efficace des équipements de grande taille, ce qui réduit le temps de test et augmente la productivité.

Si vous avez besoin d'un nombre de broches plus élevé, la configuration es660 - P1 peut être mise à niveau vers es660 - P2 (jusqu'à 2560 broches).

2. Caractéristiques

  • Compatible avec plusieurs méthodes et normes de test

  • Capacité de configuration hautement flexible du biais et du nombre de broches

  • Efficacité des tests automatisés

  • Avoir un excellent contrôle et surveillance

  • Fuite et balayage DC

  • Analyse des données

  • Tête de décharge multiple, commutation automatique du logiciel

3. Application

  • Test ESD des dispositifs semi - conducteurs

  • Les modules hbM sont conformes aux normes ANSI / ESDA / jedec JS - 001, MIL - STD - 883e, AEC q100 - 002

  • Le module mm est conforme à ANSI / ESDA sp5.2

  • Test de serrure selon jedec jesd78

  • Verrou transitoire conforme à ANSI / ESD sp5.4.1

4. spécification


Es660 unité de base

paramètre ES660 unité Remarque
écran tactile 5 pouce
taille 480 x 497,5 x 265 mm
poids 28 kilogrammes Installation complète
ESD 和 LU 波形 Sonde passive de tension et de courant en option

Oscilloscopes supportés Modèles grand public de keysight, Tektronix, lecroy, rigol
Personnalisable
Smu pris en charge Modèles grand public de keysight, Tektronix, lecroy, rigol
Personnalisable
Puissance supportée Modèles grand public de keysight, Tektronix, lecroy, rigol
Personnalisable

Options de mannequin hbM

(ANSI/ESDA/JEDEC JS-001)

paramètre ES660-P1-HBM8 ES660-P1-HBM10 unité Remarque
Tension de sortie ± 10 à 8000 ± 10 à 10 000 V
Valeur RC de décharge C: 100 pF ± 10%, R: 1,5 k Ω ± 1%

Court - circuitCourant de crête de chargeJeps 0,67 ± 10% par KV Un
Court - circuitTemps de montée de chargetrs 2 < trs< 10 ns
Court - circuitTemps d'atténuation de la chargetdes 130 < tdes< 170 ns
Court - circuitSonnerie trs < JepsDe 15%

500ΩPic de chargecourant électriqueJepr Jepr/ Ips≥ 63%

500ΩTemps de montée de chargetRR 5 < tRR< 25 ns
Le plus rapideVitesse d'impulsion 10 Un / seconde
Nombre d'impulsions simultanées > = 8
Au - dessus de 512 broches

Options du modèle mm

(ANSI/ESD SP5.2)

paramètre ES660-P1-MM2 ES660-P1-MM4 unité Remarque
Tension de sortie ± 10 à 2000 ± 10 ~ 4000 V
Valeur RC de décharge C : 200 pF, R : 0 Ω

Court - circuitLa chargeCourant de crêteJep1 1,75 ± 10% par 100V

Court - circuitLa chargeJep2 Jep167% ~ 90%

Court - circuitPériode d'impulsion de chargetaprès-midi 66 < taprès-midi< 90

500Ω pic de chargecourant électriqueJepr 0,85 à 1,2
@ 400 V condition conforme aux normes
500ΩLa chargeJe100 0,23 à 0,4
@ 400 V condition conforme aux normes
Vitesse d'impulsion la plus rapide 10 Un / seconde
Nombre d'impulsions simultanées > = 8
Au - dessus de 512 broches


Options DC & loquet

(JEDEC JESD78F.01)

paramètre ES660-P1-LU Remarque
Vecteur de prétraitement Peut être ≥ 20 MHz, 256k profondeur Paramètres externes
V/I 4Mesure de ligne Kelvin Oui
Alimentation pour bus dut V / I 3 + 1, 5 + 1, 7 + 1 Prise en charge des extensions externes DC source
Capture de forme d'onde Lu Oui
La matriceDCtension 200 volts
SSR La matriceDCtension(V) 100V
brocheDCcourant électrique 2A
Courant du canal DC 15A
Tension de source de loquet par défaut >= 150V Limitation de débit 1,2 a
par défautCourant de source de loquet >= 10A Tension 6 V


Options de verrouillage transitoire tlu

(ANSI/ESD SP5.4.1)

planSupport matériel pour la source d'impulsions transitoires loquet:

ES622 (TLP/ VF- le -TLP) etde EOS-500 (EOS),LVS-500 (LVS) et,MM


5. Informations de commande


numéro modèle Description
Options de l'unité de base
1.1 ES660-P1-BU Unité de base du système ate hbM / MM / lu à base de relais
1.2 ES660-P1-HBM8 Options de test du modèle hbM jusqu'à 8 KV
1.3 ES660-P1-HBM10 Options de test du modèle hbM jusqu'à 10 kV (discontinué)
1.4 ES660-P1-MM2 Option de test du modèle mm, tension jusqu'à 2 kV
1.5 ES660-P1-MM4 Option de test du modèle mm jusqu'à 4 kV (discontinué)
1.6 ES660-P1-LU Options de test de verrouillage (logiciel)
1.7 ES660-P1-TLU Options de test de verrou transitoire (logiciel – tlp, EOS)
1.8 ES660-TFM Module de contrôle de la température
RelaiscarteEt DC polarisé
2.1 ES660-P1-R64B4 Carte relais d'extension, 64 broches, 3 + 1 polarisation
2.2 ES660-P1-R64B6 Carte relais d'extension, 64 broches, 5 + 1 polarisation
2.3 ES660-P1-R64B8 Carte relais d'extension, 64 broches, 7 + 1 polarisation
Courant continu,Fuite d'électricitéetLe loquetOptions de source d'impulsion
3.1 ES660-PSMU2 Source de fuite \ DC \ lu: smu pulsé à deux canaux (210v / 1.5a)
3.2 ES660-SMU1 Fuite \ source DC: smu à canal unique (200V / 1a)
3.3 Es660 - psu1 Alimentation CC: alimentation à canal flexible (32v / 3a x 2 CH + 6V / 5A x 1 Ch ou 70v / 3a x 1 Ch ou 32v / 6A x 1 Ch + 6V / 5A x 1 Ch)
3.4 Es660 - psu2 Alimentation CC: alimentation 3 canaux (60v / 3a x 2 CH + 5V / 3a x 1 Ch ou 125V / 3a x 1 Ch)
3.5 Es660 - psu3 Alimentation DC: alimentation haute intensité (20v / 20A x 1 Ch)
3.6 Es660 - psu4 Alimentation DC: alimentation haute intensité (30V / 25a x 1 Ch)
3.7 Es660 - psu5 Alimentation CC: alimentation 3 canaux (30V / 6A x 2 CH, 5V / 3a x 1 Ch, ou 60v / 6A x 1 Ch)
3.8 Es660 - psu7 Alimentation DC: alimentation à double plage (100V / 1a, ou 30V / 5A)
3.9 ES660-PSU-MC1 Psu multicanal: cadre principal avec oscilloscope
3.10 Es660 - psuc1 Bloc d'alimentation multicanal: 50V, 5a, module 50W
3.11 Es660 - psuc2 Alimentation multicanal: 50V, 10A, module 100W
3.12 Es660 - psuc3 Alimentation multicanal: 60v, 5a, module 300W
3.13 Es660 - psuc4 Psu multicanal: 100V, 1a, module 100W
3.14 Es660 - psuc5 Alimentation multicanal: 100V, 3a, 300W module
3.15 Es660 - psuc6 Alimentation multicanal: 150v, 2a, 300W modules
Tester les options de prise
4.1 ES660-P1-DS512 Douille dut PCB 512 broches
4.2 ES660-P1-DS1024 Douille dut PCB 1024 broches
4.3 ES660-P1-DSC1 Prise dut PCB nombre de broches personnalisées
Options d'oscilloscope
5.1 MISC-OSC350 Oscilloscope numérique (350 MHz, 4 canaux)
5.2 MISC-OSC1 Oscilloscope numérique (1 GHz, 5 GS/s, 4 Ch)
5.3 CT-T03-1p0 Sonde de courant large bande, 1V / a, 2khz – 2ghz


Remarque: la carte mère, la carte matricielle, la carte de forme d'onde et la carte de diagnostic d'auto - contrôle font partie de la configuration standard de l'appareil et ne sont donc pas reflétées dans les informations de commande.

Es660 Décharge électrostatique et système de test de verrouillage