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Usine d'équipement d'instrument d'essai de Shanghai Xiangfeng
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Usine d'équipement d'instrument d'essai de Shanghai Xiangfeng

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Chambre d'essai d'impact à haute et basse température entièrement automatique à deux compartiments

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Lieu d'origine

Vue d'ensemble

Xf / wdcj - 100l deux compartiments haute et basse température Chambre d'essai d'impact est largement utilisé dans l'aérospatiale, électrotechnique et électronique, instrumentation et instrumentation, matériel et équipement, pièces de rechange et d'autres tests d'adaptabilité dans des conditions de changement brusque de la température de l'atmosphère environnante et des tests de sécurité des composants électroniques pour fournir des tests de fiabilité, de dépistage des produits, etc., tandis que ce test peut être passé, le contrôle de la qualité des produits.

Détails du produit

I. Présentation du produit

Xf / wdcj - 100l Chambre d'essai d'impact à haute et basse température à deux compartimentsIl est largement utilisé dans l'aérospatiale, l'électronique électrotechnique, l'instrumentation et l'instrumentation, l'équipement matériel, les pièces de rechange et d'autres tests d'adaptabilité dans des conditions de changement brusque de température atmosphérique environnante et les tests de sécurité des composants électroniques pour fournir des tests de fiabilité, des filtres de produits, etc., Tout en pouvant effectuer le contrôle de qualité des produits par ce test.


Deux,Xf / wdcj - 100l Chambre d'essai d'impact à haute et basse température à deux compartimentsParamètres techniques

modèle

XF / WDCJ-100L

XF/WDCJ-225L

XF / WDCJ-500L

XF/WDCJ-010L

Dimensions du Studio d × W × H

450×450×500

600 × 600 × 600

800×800×800

1000×1000×1000

Dimensions extérieures d × W × H

1560 × 870 × 1545

1710 × 1020 × 1845

1910 × 1220 × 2265

2110 × 1420 × 2665

Dimensions de la zone d'échantillon d × W × H

250×250×250

400×400×450

600 × 600 × 600

800×800×750

Puissance (kW) A / B / C

15 / 13 / 17

15 / 17 / 18

18 / 21 / 21

24 / 20 / 27

Performance
Indicateurs

Plage de température

A : -20 ℃ ~ 200 ℃ B : -40 ℃ ~ 200 ℃ C : -60 ℃ ~ 200 ℃

Fluctuations de température

Chambre haute température et chambre basse température ± 2 ℃

Fluctuations de température dans la zone d'échantillon

± 0,5 ℃ (à température constante)

Zone d'échantillon Bearing

30kg

30kg

50 kg

60 kg

Système de contrôle de fonctionnement de la température et de l'humidité

contrôleur

Affichage numérique LED importé (p·i·d + s·s·r) contrôleur intégré pour micro - ordinateur

Gamme de précision

Précision de réglage: Température 0,1 ℃, précision d'indication: Température 0,1 ℃, résolution: 0,1 ℃

Système de réfrigération

Unité de compression refroidie à l'eau semi - fermée importée de roue de vallée allemande / original français "tycon" / méthode de réfrigération par compression à répétition refroidie à l'air entièrement fermée

Système circulatoire

Moteur de climatisation résistant à la température et à faible bruit. Roue à vent centrifuge multilobes

Temps de conversion de température

De la zone basse température à la zone haute température ou de la zone haute température à la zone basse température ≤ 15s

Temps de récupération de la température

≤ 5min (lié aux conditions de récupération de température, à la fois la température de l'eau de refroidissement, la différence de température d'exposition, le temps de thermostat, le poids de l'échantillon)

Méthode de choc de température

Méthode verticale à deux boîtes (boîte d'essai à choc chaud et froid à deux boîtes


Trois,Chambre d'essai d'impact haute et basse température à deux compartimentsRespect des normes et des méthodes d'essai

Conditions techniques de la Chambre d'essai à haute température gb11158 - 2008

Conditions techniques de la Chambre d'essai à basse température gb10589 - 2008

Gb10592 - 2008 conditions techniques de la Chambre d'essai haute et basse température (température alternative)

GB / t2423.1-2008 - Essais environnementaux des produits électrotechniques et électroniques - partie 2: essai de méthode d'essai a: basse température (iec60068 - 2 - 1: 2007)

GB / t2423.2-2008 - Essais environnementaux des produits électrotechniques et électroniques - partie 2: essai de méthode d'essai B: haute température (iec60068 - 2 - 1: 2007)

GB / t2423.22-2002 - essais d'environnement des produits électrotechniques et électroniques - - partie 2: essai de méthode d'essai n: variation de température (iec60068 - 2 - 14)

Gjb150.3a-2009 laboratoires équipés - - méthodes d'essais environnementaux - - partie 3: essais à haute température gjb150.3a-2009 laboratoires équipés - - méthodes d'essais environnementaux - - partie 3: essais à basse température gjb150.3a-1986 essais de choc de température